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  • TEM样品制备(平面与截面)、TEM微结构分析

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  • 对应法规:TEM样品制备
    CNAS认可项目:是
  • TEM样品制备

           在材料科学的研究中,TEM样品制备在电子显微学研究工作中,起着至关重要作用,是丰常精细的技术工作。要想得到好的TEM结果,首先要制备出好的薄膜样品。

           TEM样品制备在电子显微学研究中起着非常重要的作用,传统的常规制备方法有很多,例如:化学减薄,电牌双喷,解理、超薄切片.粉碎研磨、FIB聚焦高子束,机械减薄、离子减薄,这些方法都能制备出比较好的薄膜样品,

    TEM样品类型

    • 块状:用于普通微结构研究;
    • 平面-用于薄膜和表面附近微结构研究;
    • 横截面样品:均匀薄膜和界面的微结构研究;
    • 小块物体∶ 粉末,纤维,纳米量级的材料。

    我们的TEM样品制备能力:

    • 非定点TEM样品制备(截面, Si);
    • 定点TEM样品制备(截面, Si);
    • 非定点TEM样品制备(平面, Si);
    • 定点TEM样品制备(平面, Si);
    • 非定点TEM样品制备(截面, Non-Si);
    • 定点TEM样品制备(截面, Non-Si);
    • 非定点TEM样品制备(平面, Non-Si);
    • 定点TEM样品制备(平面, Non-Si)

     


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