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天津市电子仪表实验所

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  • 半导体分立器件发光二极管部分参数检测

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  • 对应法规:
    CNAS认可项目:是
  • 《半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范》GB/T 4589.1-2006/IEC 0747-10:1991,《半导体器件 机械和气候试验方法》GB/T 4937-1995,《半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分:总则》GB/T 4937.1-2006/IEC 60749-1:2002,《半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分:低气压》GB/T 4937.2-2006/IEC 60749-2:2002,《半导体器件 光电子器件分规范》GB/T 12565-1990

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