中山大学

主要技术指标

Quanta 400 FEG场发射扫描电子显微镜是表面分析重要的表征工具之一，具有灵活先进的自动化操作系统。具有三种成像真空模式--高真空模式、低真空模式和ESEMTM模式，可以观察分析各种类型的样品。它可以对处理过的样品和未处理的原始样品提供微米、纳米级表面特征的图像和微观分析数据。在生物学、地质、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、考古以及其他领域中得到日益广泛的应用。本仪器还配有INCA X-射线能谱仪和EBSD背散射电子衍射系统，元素分析范围为4Be~92U，同时可进行晶体结构和取向分析。

1、电镜的分辨率：2 nm放大倍数：7 ~ 500,000

2、扫描电镜分辨率：30kV高真空、低真空: 2.0nm；3kV低真空: 3.5nm

3、30kV透射扫描(STEM)分辨率：1.5nm；环境真空模式下30kV时，分辨率2.0nm

4、能谱元素分析范围：5B~92U

5、EBSD空间分辨率(Al, 20kV): 0.1μm FEG SEM；角度分辨率优于0.5度

6、相鉴定功能：包括七大晶系，具有最大的相鉴定数据库

主要功能

热场发射环境扫描

可进行显微形貌、显微成分、显微结构和显微织构的分析测试。

技术特色

高技术服务

主要测试或应用领域

医疗/卫生,矿业/冶金,石油/化工,材料/珠宝首饰,食品/药品,大气/海洋/土壤/环境,天文,考古

联系人姓名：赵文霞、程小宁

联系人电话：84110783