技术指标:场发射电子枪点分辨率:0.24nm 线分辨率:0.14nm 放大倍数:50x-1500kx 样品倾斜角度:±30° 带CCD, TV相机
仪器用途:该设备用于测量和研究材料的晶体结构及超高分辨率图像的观察,及得到纳米尺度的结构信息,元素分布信息
收费标准:400元/小时
机组负责人:李艳青 13962526596 yqli@suda.edu.cn
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