技术指标:加速电压:0.5~30kV;分辨率:1.2 nm(30kV)、3.0 nm(1kV);放大倍数:10×―500,000×;成像信号:二次电子、背散射电子。
仪器用途:主要用于对固体、粉体材料表面形貌、微观组织、断裂断口特征等的观察分析,同时配有英国Oxford公司Inca Energy-350型X射线能谱仪、丹麦HKL公司Channel-5型电子背散射衍射(EBSD)分析系统,可在观察微观形貌的同时,进行微区成分的点、线、面分布分析;微区物相晶体结构、晶体取向、取向成像、取向分布等的显微分析。
收费标准:电话联系商议
机组负责人:陈康敏、潘励 0511-88792716