技术指标:点分辨率:≤0.08nm,信息分辨率:≤0.08nm,高稳定性肖特基场发射电子枪S-FEG,束流:≥0.6nA @ 1nm,电子枪能量分辨率:≤ 0.7eV,束斑漂移:≤ 0.5nm/min,具有洛伦茨透镜,可以观察磁性样品,会聚束电子衍射:最大会聚角:≥100mrad,最大衍射角:≥26°,标准低背景双倾样品台最大倾斜角度:± 40°,样品移动范围 :X,Y: ± 1 mm;Z : ±0.375 mm,扫描透射(STEM):分辨率:0.136nm,探头:高角环形暗场探头(HADDF)
仪器用途:用于材料的超高分辨形貌观察和微区的晶体结构、成份分析,系统由电子光学系统、高压系统、真空系统等部分组成。
收费标准:300元/小时
机组负责人:刘金强 025-84303283 jqliu@njust.edu.cn