技术指标:测量精度:X轴(µm):2.0+4L/1000;Y轴(µm):2.0+4L/1000;Z轴(µm):2.5+5L/1000;XYZ(mm)测量范围:300×150×200;激光扫描速度:1000点/秒;激光头测量范围: 50mm;光点尺寸:30~40µm;载物台尺寸:500×400。
仪器用途:植球、植柱、成型等电路外形尺寸测量
收费标准:面议
机组负责人:周悦 051085817270 package2006@163.com
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