惠州市安普检测技术服务有限公司

新型CMI900系列即时分析仪代表了牛津仪器（OXFORD INSTRUMENTS）镀层厚度测量和材料成份分析技术的一次重大飞跃。软件和硬件领域的新进步提高了我们X线系列产品的性能。CMI900系列能够测量极薄的浸液镀层（银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。 区别材料并测量氮化钛镀层。CMI900系列分析仪能够即时分析黄金和其它贵重金属。印刷电路板和电子元件制造商以及金属表面处理专业厂家也可以从我们测量镀层厚度和成份的先进技术中获益。 像我们所有的仪器一样，这个系列的仪器也由牛津仪器集团提供技术支持。我们保证在售前和售后都提供卓越的服务。 测量和材料分析系统软件 所有Oxford X线荧光系统都配备有Oxford Smartlink FP系统操作软件包。这是一种基于windows的综合性基本参数软件程式。 规格简介 无标准效准：Oxford支持使用标准以解决顺应性和系统优化问题 包含原子序号22至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体 5层/15种元素/普通元素效正 同时为多达15种元素进行成份分析 贵重金属分析和金纯度检查 材料与合金元素分析 材料鉴定与区别 吸收测量方式 液体分析：分析液体中的金属，如电镀液 系统自动调整和效正：效正X线导管、探测器和电子设备的变化 光谱计数速率峰值位移效正 重叠荧光峰值数字峰值反卷 定性光谱分析元素ID。同时轻松自如地查看和比较多达四个光谱 Oxford统计数字和报告产生器LE（轻型） Oxford SmartLink 补充软件系列 Oxford统计数字和报告产生器 配备数据库的Oxford统计数字和报告产生器 Oxford即时分析 Oxford材料区别 Oxford Percent P 有了Oxford SmartLink补充软件系列，您就能够将原始数据转变成强有力的资讯。所有的Oxford统计数字和报告产生器都让您根据自己的需要选择定制报告。统计数字软件提供：平均值，S.D.，最小值，最大值，范围，偏差百分比，控制上限，控制下限，Cpk，组织图，X-bar/R。所有的性质都可以用多媒体形式做图表演示。用户可以输入测量元件的数字图像或CAD文件，并把它们直接放在品质报告上。 配备数据库的Oxford统计数字和报告产生器：与上面相同，但包含一个完整的数据库。数据库总共包含十个可追踪域，其中八个为用户定义域。元件号和日期/时间域为标准域。通过用户选择索引对数据进行存档、索引和分类处理。 Oxford即时分析、材料区别和Percent P等选项，能够为您的具体应用优化CMI900系列仪器的功能。这些选项可能包含附加软件、定制功能和附加硬件，以提高系统性能。 激励 下视X线。X线射束90度采样 风冷微聚焦X导管，提供钨、钼和其它阳极。 电力：最大瓦特，4-50kv可编程，0-1.5mA 准直管：多个（最多6个），可编程，圆形，矩形（我们将帮助您选择适合于您应用的准直管） 主要过滤器：提供各种厚度及材料 X线探测器和信号处理 X线探测器：密封氙气正比计数器；提供其它填充气体 探测器过滤器：最多3个，5个位置，可编程-马达驱动；提供钒、铁、锡、和其他元素 高速探测器信号处理电子设备，具有峰值位移校正功能 样品处理 样品室：密封（950系列）或开缝（900系列） 在X、Y、Z轴上可编程马达驱动控制 高清晰度、实时、彩色样品示图，15〞（38.10cm）（标准）或17〞（43.18cm）（选项） 彩色样品图像捕获和打印 激光样品聚焦 电脑产生十字线，准直管尺寸指示器，用于样品准定位 可变聚焦距离控制，以适应变化的样品外型 样品变大：选择30、50、或100放大。提供固点聚焦距离或可变聚焦距离选项 测量