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  • 华碧实验室在电子元器件、微电子技术的质量与失效分析方面完成了大量科研任务,为提供领先行业的技术服务积累了厚实的技术基础。近些年来,随着企业对电子产品寿命评估、工艺质量改进、产品可靠性增长,为企业提供相关科研技术支撑和实际问题解决方案。 科研对象 Research Objects 大规模集成电路 线路板及线路板组件 混合集成电路及多芯片组件 光电器件 微波器件及组件 阻容元器件、继电器、连接器 RoHS及有害物质控制管理系统 Integrated Circuit PCB & PCBA Hybrid Integrated Circuit Photoelectron Device Microwave Device Resistor, Capacitance, Relay, Connector RoHS & Pollution Administration system 研究领域与方向 Research Areas 可靠性物理 失效模式、失效机理及其数理模型 可靠性设计与仿真技术 ESD设计 热设计有限元仿真 生产过程质量控制技术 SPC、Cpk、PPM、6σ、QCC 失效分析与材料分析技术 FIB、EB、SEM及其分析技术 可靠性测试、评价、试验技术 先进电子封装/组装互连可靠性 高加速应力试验方法,极限应力试验方法 电子产品寿命评价 可靠性增长技术 基于失效物理 (PoF)的可靠性增长方案 Reliability Physics Failure Mode & Failure Mechanism Reliability Design and Simulation ESD Design FEA Process Control TCPI Failure Analysis and Material Analysis FIB、EB、SEM Reliability Test, Evaluation Reliability of Solder Joint for Assembly & package HAST Life Prediction Reliability Growth PoF Reliability Growth 科研成果 Achievements RoHS及有害物质控制管理系统 强大的可靠性数据库 专业试验设备研制 RoHS & Pollution Administration system Reliability Datebase Equipment Development
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