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  • XRF 用 X光照射待分析样品,样品中的元素内层电子被击出后,造成核外电子的跃迁,在被激发的电子返回基态的时候,会放射出特征 X 光;不同的元素会放射出各自的特征 X 光,具有不同的能量或波长特性。 仪器技术参数 X射线管靶: 铑靶(Rh),X射线管压: 60kv(Max), X射线管压: 150mA(Max) 检测元素范围:4Be~92U,检测浓度范围:10-6~100%, 最小分析微区:直径250μm 最大扫描速度:300º/min 送样要求 固体粉末:均匀干燥,粒度小于70um(过200目),质量不少于100 mg; 块体、金属及薄膜样品:需加工出一平整的表面,尺寸约为20mm×10mm×2mm 应用领域 电子、磁性材料领域:用来研究半导体、磁光盘、磁性材料、电池、线路板、电容嚣等;化学工业领域:可用来研究无机、有机制品、化学纤维 催化剂、涂料、颜料、药品 、化妆品、洗涤剂、橡胶、调色剂等成分;钢铁、有色金属领域:可用来研究和测定各种合金成分;陶瓷、水泥领域:可用来测定水泥、水泥原料、陶瓷、熟料、石灰石、粘土、玻璃、耐火材料、岩石等;农业、食品工业中可用来检测中土壤、肥料、植物、食品等。 常见适用标准 GBT 18043-2008 首饰 贵金属含量的测定 X射线荧光光谱法 GBZ 21277-2007 电子电气产品中限用物质铅、汞、铬、镉和溴的快速筛选

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